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本文標題:"微顆粒分離電流計襯底表面樣品分析顯微鏡"

新聞來源:未知 發布時間:2020-7-23 13:12:32 本站主頁地址:http://www.grahamnapier.com

微顆粒分離電流計襯底表面樣品分析顯微鏡

    靜電場分離技術
    靜電場分離技術的原理:將帶有微顆粒的襯底表面樣品置于平行
電極板中,加上可以調節的外電場,隨著外加電場強度的逐漸增大,
增加到一定程度時,微顆粒所受到的電場力就會克服其黏附力而脫離
襯底表面。又由于微顆粒的重力相對于黏附力來說其影響很小可以忽
略,所以可用微顆粒分離時所受到的電場力來問接衡量黏附力的大小
。
    靜電場分離技術的測試裝置。微顆粒分離的情況采用電流計來監
測,在兩平行電極之間加上直流電壓,且可以不斷地以某一個設定的
電壓增加速率而增加,在兩平行電極板問就會產生一逐漸增加的靜電
場;樣品襯底表面分散有微顆粒,放置在下電極板上,隨著電』茬的
增大,微顆粒所受的靜電力不斷增大,當其增大到一定程度時就會開
始脫離下極板而乜向上極板;而隨著微顆粒不斷地向上極板運動就會
產生相應的電流,電流的流動情況叮以通過回路中的電流計來測量,
采用數據采集號采集電壓的輸出情況,再用信號調節器和高壓放大器
將數據采集卡上的低壓信號放大

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