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本文標題:"礦物試樣表面,礦物表面的花紋分析顯微鏡"

新聞來源:未知 發布時間:2020-7-19 1:50:08 本站主頁地址:http://www.grahamnapier.com

礦物試樣表面,礦物表面的花紋分析顯微鏡

    礦物試樣表面的覆型,礦物表面的花紋(品面條紋、雙晶紋、生長
紋、階梯等)磨損表面擦痕、撞擊坑、結構,解理面或斷口面的形貌等
。(3)超薄片,主要用丁礦物?的形態,結構、形變、位錯、缺陷、構
造等研究。在這三類蛇試樣制備過程中,第一類必須在銅網上做一層
較薄的支持膜,以托住礦物的微粒,才能在電鏡中進行觀察和做電子
衍射花桿結構分析,常稱載有超顯微顆粒的膜為粉末試樣膜。后兩種
試樣本身都是一層極薄的膜,不需另加支持膜。
    目前常用的有先制備支持膜后分散粉末和膠粉混合兩種方法。前
者制備山來的試樣j㈠電鏡觀察寸粉末邊界清楚,膜厚薄均勻,觀察效
果好。們制樣麻煩。后者制小的試樣粉末周圍膠膜較厚,邊界不夠清
晰,但制樣手續簡單。
    先制備支持膜后分散粉末法:
    火棉膠膜法:將火棉膠加醋酸以脂潔液,經24小寸充分溶解,制
成不同濃度(一般為1—3%)的透明狀液體,用這種液體制取火棉膠膜
的方法有兩種,一補是水面展開法:將配制好的;1%左右濃度的火棉
膠醋酸戊臨溶液2—3滴,滴到清潔的蒸餾水的表面上,膠液便在水面
展開(注意不要接觸容器邊).,等溶液揮發后,水面上便形成一層極
博的火棉腋膜

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