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本文標題:"工具顯微鏡是使用光學檢測方法精準、快速的測量"

新聞來源:未知 發布時間:2013-5-8 13:38:56 本站主頁地址:http://www.grahamnapier.com

工具顯微鏡是使用光學檢測方法精準、快速的測量


在科技持續進步的同時,量測技術也持續的進步。在工業技術及醫療科技方面也不斷地朝著準確性,
快速,非侵入式掃描的方向前進。而近年來的些許工業檢測樣品以及醫學方面的生物組織樣品皆為雙折射材質,

早年量測技術可用超音波或探針來量測,


近年來可利用光學檢測方法,將光引入樣品,將所反射的訊號再加以解析,找出其厚度及折射率。

傳統的量測架構,無法正確得知雙折射訊息。因此,如何正確,精準、快速的測量出雙折射物體或組織的方法
也一直在研究中。 本文主要是利用(PS-OCT)來測量雙折射樣品,
使用極化光特性用于光學同調斷層掃描 (Optical Coherence Tomography;OCT)得知雙折射樣品的信息。

極化敏感光學同調對層掃描是以傳統OCT架構上再做延伸,可以利用光的偏振特性測量待測物的一種方法。

在系統中,可以控制入射光與待測物背向散射光的極化態,加以找出相位延遲以及光強度的圖像,
完成了非侵入式掃描且快速,準確,穩定的方式。

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